Рис. 1 Схема и изображения гибридного фотонного микроволнового осциллятора на чипе на основе микрогребёнки. a Схема устройства на чипе. Микроэлектронная схема подает ток на DFB-лазер и стабилизирует его температуру. Через торцевую связь CW-свет от лазера попадает в Si₃N₄ микрорезонатор (A⁺). Используя оптическое обратное рассеяние (A⁻) из Si₃N₄ микрорезонатора в лазер, происходит самовоздействующая синхронизация (SIL) лазера, что значительно сужает ширину линии лазера. Одновременно в микрорезонаторе формируется циркулирующий поток платиконов/темных импульсов. Выходной поток импульсов принимается чипом ФД, который выдает микроволновую несущую на частоте повторения импульсов. S_φ, фазовый шум микроволн. f_offset, фурье-смещение частоты. b Фотография гибридного устройства на чипе и отдельных компонентов. c Увеличенное изображение, показывающее DFB-лазер, закрепленный проводными связями на PCB и связанный торцевой связью с чипом Si₃N₄ микрорезонатора. d Увеличенное изображение, показывающее чип ФД, связанный торцевой связью с чипом Si₃N₄ и подключенный пробником типа земля-сигнал-земля (GSG) для вывода микроволнового сигнала. e Ложное цветное СЭМ-изображение, показывающее многослойную структуру ФД. InGaAs, арсенид галлия-индия. InGaAsP, фосфид-арсенид галлия-индия. InP, фосфид индия. BCB, бензоциклобутен, тип смолы.
Рис. 2 Характеристика микрорезонаторов из Si₃N₄ и чипа фотодетектора. a Гистограмма 70, 220 измеренных собственных добротностей (Q₀) с двадцати семи чипов Si₃N₄ на 6-дюймовой подложке. Наиболее вероятное значение составляет Q₀ = 25 × 10⁶. b Профиль интегральной дисперсии Dint/2π микрорезонатора из Si₃N₄ со спектральным диапазоном (FSR) 10,7 ГГц. Красные точки — экспериментальные данные, синяя линия — полиномиальная аппроксимация. Опорная частота ω₀/2π = 193,324 ТГц соответствует частоте накачки DFB-лазера. D₁/2π = 10,686 ГГц — это FSR микрорезонатора. D₂/2π = –87,27 кГц — это нормальная групповая дисперсия (GVD). c Наиболее вероятные значения Q₀ чипов Si₃N₄ в различных точках, равномерно распределенных по 6-дюймовой подложке. В большинстве точек наблюдается Q₀ ≥ 20 × 10⁶, что демонстрирует высокий выход годных изделий процесса изготовления Si₃N₄. NA — нет данных. d Амплитудно-частотная характеристика чипа ФД размером 3 × 15 мкм². Красные точки — экспериментальные данные, синяя линия — полиномиальная аппроксимация. e Измеренный темновой ток в зависимости от напряжения смещения чипа ФД. Отрицательное напряжение смещения приводит к темновому току ниже 1 нА. f Измеренная чувствительность (отклик) чипа ФД в зависимости от длины волны. g Мощность RF-сигнала в зависимости от переменного тока чипа ФД. Измеренные данные (красные точки) соответствуют идеальному случаю (черная линия).
Рис. 3 Наблюдение и характеристика динамики подавления шума в дискретных состояниях платиконов. a Оптические спектры четырёх состояний платикона при значениях тока DFB-лазера 313,25, 315,77, 316,23 и 316,61 мА. b Измеренная оптическая мощность платикона (пропорциональная постоянному выходному напряжению ФД, синие точки) и фазовый шум СФ микроволнового сигнала (Sφ) на отстройке по Фурье 10 кГц для несущей частоты fᵣ ≈ 10,7 ГГц (красные точки). c Измеренная частота микроволнового сигнала fᵣ ≈ 10,7 ГГц (светло-синие точки) и производная fᵣ по току DFB-лазера (т.е. dfᵣ/dI, фиолетовые точки). f₀ = 10,685550 ГГц — это смещение частоты. d Измеренная мощность микроволнового сигнала на частоте fᵣ ≈ 10,7 ГГц. В пределах каждого состояния платикона серые пунктирные стрелки на панелях b–d выделяют состояния с подавлением шума, где локальные минимумы Sφ всегда совпадают с локальными максимумами fᵣ и мощности микроволнового сигнала, а также с точками, где dfᵣ/dI = 0.