Меню
Главная  /  Оборудование  /  Печь осаждения LPCVD

Печь осаждения LPCVD

Термическое оборудование для химического осаждения из газовой фазы при пониженном давлении (0,1 - 10 Торр) в кварцевом реакторе. Обеспечивает высокую равномерность, чистоту и конформность покрытий. Горизонтальное исполнение оптимально для R&D и мелкосерийного производства, вертикальное — отраслевой стандарт для высокопроизводительного выпуска пластин 200 и 300 мм с полной автоматизацией. Используется для осаждения поликремния, нитрида кремния, диоксида кремния (в т.ч. из TEOS), легированных стёкол (BPSG, PSG, BSG)
Фотоника и опто­электроника
Органическая электроника
МЭМС
Кремниевая электроника
Силовая электроника
СВЧ

Общие характеристики

Тип реактора
горизонтальный (14 кварцевые трубы) или вертикальный (многотрубные
конфигурации от 1 до 12 труб)
Диаметр пластин
от 50 мм до 300 мм (150, 200, 300 мм)
Загрузка
- R&D: до 25–50 шт.
- Промышленная: 100–150+ шт. (300 мм – до 150 шт.)
Диапазон температур
200 -1350°C (опционально до 1500°C),
для LPCVD-процессов: поликремний
600–650°C, TEOS 625–725°C
Длина равномерной зоны (вертикальные)
960–1040 мм и более
Неравномерность температуры
≤ ±0,5°C по длине зоны (для всей зоны ≤ ±1,0°C)
Зоны нагрева
3 или 5 независимых зон
Рабочее давление
регулируемое пониженное (0,1–10 Торр, типовые процессы 0,1–2 Торр), что соответствует описанию «несколько
Торр или ниже» на отраслевом ресурсе.
Скорость осаждения
- Поликремний: 6–20 нм/мин.
- TEOS SiO2: 10–25 нм/мин.
- PECVD (для сравнения): 25–350 нм/мин
Конформность (для аспектного отношения до 10:1)
- LPCVD поликремний: высокая
- LPCVD TEOS: очень высокая
(превосходит PECVD и APCVD),
что подтверждается информацией
о более конформном покрытии
по сравнению с LTO.
- ALD: превосходная
Типичные прекурсоры / процессы LPCVD
- Поликремний: SiH4, Si2H6
- Нитрид кремния (Si3N4): SiH2Cl2 + NH3, SiH4 + NH3
- Диоксид кремния: TEOS (тетра­этилорто­силикат), SiH4 + O2
- Легированные стёкла: PSG (TEOS + PH3 или TMPi), BSG (TEOS + TMB), BPSG
- Легирование in situ: бор, фосфор
Погрешность газовой системы
≤ ±1,0% (на базе MFC), до 8 газовых
линий + 2 жидкостных источника
(DCE, POCl3, BBr3, NH3, N2O, TEOS и др.)
Управление
ПЛК + HMI сенсорный экран,
распределённая система управления,
поддержка SECS/GEM, HSMS/GEM,
интерфейс с MES
Питание
380/400 В, 3 фазы, 50/60 Гц
Энергопотребление
R&D от 20 кВт; промышленные 45–165 кВт
Охлаждение
водяное (8–60 л/мин)
Вытяжка
200–800 м³/ч
Сжатый воздух
4,8–7,6 бар

Опции

Конфигурация реакторов: от 1 до 12 труб, dual reactor с последовательной обработкой
в двух камерах без окисления
Газовая система: расширенная до 8 линий +2 жидкостных, включая коррозионностойкие
линии для TEOS, HCl, Cl2
Тип нагрева: резистивный (стандарт), высокотемпературный MoSi2 до 1350°C
Система принудительного охлаждения (fast cooling / forced cooling)
N2 load lock для минимизации окисления при загрузке/выгрузке
Автоматизация (вертикальные системы): полностью автоматическая загрузка кассет (FOUP),
роботизированная передача пластин (single / five wafers), встроенный стокер на 16–20 кассет
Система плазменной очистки (in situ) перед процессом
Обработка тонких пластин / IGBT / SiC
Поликремниевая оснастка (снижение дефектности и циклов очистки на 40–60 %)
Импульсные режимы подачи газов (pulsed LPCVD) для повышения конформности и равномерности
Предиктивная аналитика и удалённый мониторинг с интеграцией в MES
Конструкция механизма вращения подложки для сверхвысоковакуумного напыления и высокотемпературного нагрева. Используется керамический корпус, водяное охлаждение внутри для защиты механизма вращения и обеспечения его стабильной работы на долгое время.
Гибкий подбор размеров вакуумной камеры зависящий от размера подложки и области применения
Полно диапазонный датчик вакуума с цифровым дисплеем и Баратрон для управления давлением в системе по замкнутому контуру
Несколько испарителей с последовательной работой или совместным напылением
ВЧ-, НЧ- или импульсные источники для диэлектриков и токопроводящих материалов
Напыление многослойных плёнок выбранными материалами мишеней
Регулируемая высота магнетронов, (расстояние между мишенью и подложкой)
Позвоните нам +7 (495) 150 95 46
Или оставьте запрос на коммерческое предложение
и дополнительную информацию в этой форме
Поля, обязательные к заполнению, помечены (*).
Нажимая на кнопку, Вы соглашаетесь с Политикой конфиденциальности.